Музей Черномырдина Музей Бахрушина Центральный музей
    Вооруженных Сил РФ Валютная биржа Центральная детская
    библиотека Музей Есенина Политехнический музей Дворец спорта Видное Педагогический
    колледж Музей спорта Музей памяти воинов Библиотека 214 МузШкола Радость Самбо 70 Частная коллекция

Энциклопедия по машиностроению XXL. Дифракционная картина это

дифракционная картина - это... Что такое дифракционная картина?

дифракционная картина

diffraction pattern

Англо-русский словарь технических терминов. 2005.

дифракционная антенна
дифракционная линия задержки

Смотреть что такое "дифракционная картина" в других словарях:

дифракционная картина — Интерференционная картина, возникающая при интерференции света, дифрагировавшего на оптических неоднородностях. [Сборник рекомендуемых терминов. Выпуск 79. Физическая оптика. Академия наук СССР. Комитет научно технической терминологии. 1970 г.]… … Справочник технического переводчика
дифракционная картина — difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. diffraction image; diffraction pattern vok. Beugungsbild, n; Beugungserscheinung, f rus. дифракционная картина, f; дифракционное изображение, n pranc. figure de diffraction, f; image … Fizikos terminų žodynas
дифракционная картина Лауэ — Lauės difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Laue diffraction pattern vok. Laue Beugungsbild, n rus. дифракционная картина Лауэ, f pranc. figure de difraction Laue, f … Fizikos terminų žodynas
картина дифракционная — Отображение кристаллич. структуры в виде линий или точек на фоточувствит. материале, создав. дифрагиров. пучками эл нов, нейтронов или рентг. лучей. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN diffraction pattern … Справочник технического переводчика
Картина дифракционная — [diffraction pattern] отображение кристаллической структуры в виде линий или точек на фоточувствительном материале, создаваемое, дифрагированными пучками электронов, нейтронов или рентгеновских лучей … Энциклопедический словарь по металлургии
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА — раздел физики, изучающий структуру и свойства твердых тел. Научные данные о микроструктуре твердых веществ и о физических и химических свойствах составляющих их атомов необходимы для разработки новых материалов и технических устройств. Физика… … Энциклопедия Кольера
ОПТИКА — раздел физики, в котором рассматриваются все явления, связанные со светом, включая инфракрасное и ультрафиолетовое излучение (см. также ФОТОМЕТРИЯ; ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ). ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Геометрическая оптика основывается на… … Энциклопедия Кольера
Дуализм корпускулярно-волновой — Квантовая механика Принцип неопределённости Введение ... Математическая формулировка ... Основа … Википедия
Корпускулярно-волновой дуализм — Квантовая механика … Википедия
Волны — изменения состояния среды (возмущения), распространяющиеся в этой среде и несущие с собой энергию. Например, удар по концу стального стержня вызывает на этом конце местное сжатие, которое распространяется затем вдоль стержня со скоростью… … Большая советская энциклопедия
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ — невидимое излучение, способное проникать, хотя и в разной степени, во все вещества. Представляет собой электромагнитное излучение с длиной волны порядка 10 8 см. Как и видимый свет, рентгеновское излучение вызывает почернение фотопленки. Это его… … Энциклопедия Кольера

Книги

11 класс. Физика, Сборник. Диск предназначен в помощь учащимся 11 классов, изучающим физику на базовом уровне. Он включает в себя теоретический материал, состоящий из 15 основных разделов школьной программы. Простота… Подробнее Купить за 149 руб аудиокнига

dic.academic.ru

дифракционная картина - это... Что такое дифракционная картина?

дифракционная картина

ua\ \ [lang name="Ukrainian"]дифракційна картина

en\ \ [lang name="English"]diffraction pattern

de\ \ [lang name="German"]Beugungsaufnahme, Beugungsbild

fr\ \ \ [lang name="French"]cliche de diffraction, diagramme de diffraction

Терминологический словарь "Металлы". - Москва-Запорожье: Мотор-Сич. 2005.

дифракционная картина Лауэ
дифракционная электронная микроскопия

Смотреть что такое "дифракционная картина" в других словарях:

дифракционная картина — Интерференционная картина, возникающая при интерференции света, дифрагировавшего на оптических неоднородностях. [Сборник рекомендуемых терминов. Выпуск 79. Физическая оптика. Академия наук СССР. Комитет научно технической терминологии. 1970 г.]… … Справочник технического переводчика
дифракционная картина — difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. diffraction image; diffraction pattern vok. Beugungsbild, n; Beugungserscheinung, f rus. дифракционная картина, f; дифракционное изображение, n pranc. figure de diffraction, f; image … Fizikos terminų žodynas
дифракционная картина Лауэ — Lauės difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Laue diffraction pattern vok. Laue Beugungsbild, n rus. дифракционная картина Лауэ, f pranc. figure de difraction Laue, f … Fizikos terminų žodynas
картина дифракционная — Отображение кристаллич. структуры в виде линий или точек на фоточувствит. материале, создав. дифрагиров. пучками эл нов, нейтронов или рентг. лучей. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN diffraction pattern … Справочник технического переводчика
Картина дифракционная — [diffraction pattern] отображение кристаллической структуры в виде линий или точек на фоточувствительном материале, создаваемое, дифрагированными пучками электронов, нейтронов или рентгеновских лучей … Энциклопедический словарь по металлургии
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА — раздел физики, изучающий структуру и свойства твердых тел. Научные данные о микроструктуре твердых веществ и о физических и химических свойствах составляющих их атомов необходимы для разработки новых материалов и технических устройств. Физика… … Энциклопедия Кольера
ОПТИКА — раздел физики, в котором рассматриваются все явления, связанные со светом, включая инфракрасное и ультрафиолетовое излучение (см. также ФОТОМЕТРИЯ; ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ). ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Геометрическая оптика основывается на… … Энциклопедия Кольера
Дуализм корпускулярно-волновой — Квантовая механика Принцип неопределённости Введение ... Математическая формулировка ... Основа … Википедия
Корпускулярно-волновой дуализм — Квантовая механика … Википедия
Волны — изменения состояния среды (возмущения), распространяющиеся в этой среде и несущие с собой энергию. Например, удар по концу стального стержня вызывает на этом конце местное сжатие, которое распространяется затем вдоль стержня со скоростью… … Большая советская энциклопедия
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ — невидимое излучение, способное проникать, хотя и в разной степени, во все вещества. Представляет собой электромагнитное излучение с длиной волны порядка 10 8 см. Как и видимый свет, рентгеновское излучение вызывает почернение фотопленки. Это его… … Энциклопедия Кольера

Книги

11 класс. Физика, Сборник. Диск предназначен в помощь учащимся 11 классов, изучающим физику на базовом уровне. Он включает в себя теоретический материал, состоящий из 15 основных разделов школьной программы. Простота… Подробнее Купить за 149 руб аудиокнига

metals_ru_uk.academic.ru

Дифракция — WiKi

Дифракция первого и второго порядка как интерференция волн, образованных при падении плоской волны на непрозрачный экран с парой щелей. Стрелками показаны линии, проходящие через линии интерференционных максимумов

Дифра́кция во́лн (лат. diffractus — буквально разломанный, переломанный, огибание препятствия волнами) — явление, которое проявляет себя как отклонение от законов геометрической оптики при распространении волн. Она представляет собой универсальное волновое явление и характеризуется одними и теми же законами при наблюдении волновых полей разной природы.

Дифракция неразрывно связана с явлением интерференции. Более того, само явление дифракции зачастую трактуют как случай интерференции ограниченных в пространстве волн (интерференция вторичных волн). Общим свойством всех эффектов дифракции является зависимость степени её проявления от соотношения между длиной волны λ и размером ширины волнового фронта d, либо непрозрачного экрана на пути его распространения, либо неоднородностей структуры самой волны.

Поскольку в большинстве случаев, имеющих практическое значение, это ограничение ширины волнового фронта имеет место всегда, явление дифракции сопровождает любой процесс распространения волн.

Так, именно явлением дифракции задаётся предел разрешающей способности любого оптического прибора, создающего изображение, который невозможно преступить принципиально при заданной ширине спектра излучения, используемого для построения изображения[1].

В ряде случаев, в особенности при изготовлении оптических систем, разрешающая способность ограничивается не дифракцией, а аберрациями, как правило, возрастающими при увеличении диаметра объектива. Отсюда происходит известное фотографам явление увеличения до определённых пределов качества изображения при диафрагмировании объектива.

При распространении излучения в оптически неоднородных средах дифракционные эффекты заметно проявляются при размерах неоднородностей, сравнимых с длиной волны. При размерах неоднородностей, существенно превышающих длину волны (на 3—4 порядка и более), явлением дифракции, как правило, можно пренебречь. В последнем случае распространение волн с высокой степенью точности описывается законами геометрической оптики. С другой стороны, если размер неоднородностей среды сравним с длиной волны, в таком случае дифракция проявляет себя в виде эффекта рассеяния волн.[2]

Изначально явление дифракции трактовалось как огибание волной препятствия, то есть проникновение волны в область геометрической тени. С точки зрения современной науки определение дифракции как огибания светом препятствия признается недостаточным (слишком узким) и не вполне адекватным. Так, с дифракцией связывают весьма широкий круг явлений, возникающих при распространении волн (в случае учёта их пространственного ограничения) в неоднородных средах.

Дифракция волн может проявляться:

в преобразовании пространственной структуры волн. В одних случаях такое преобразование можно рассматривать как «огибание» волнами препятствий, в других случаях — как расширение угла распространения волновых пучков или их отклонение в определённом направлении;
в разложении волн по их частотному спектру;
в преобразовании поляризации волн;
в изменении фазовой структуры волн.

Наиболее хорошо изучена дифракция электромагнитных (в частности, оптических) и акустических волн, а также гравитационно-капиллярных волн (волны на поверхности жидкости).

Тонкости в толковании термина «дифракция»

В явлении дифракции важную роль играют исходные размеры области волнового поля и исходная структура волнового поля, которая подвержена существенной трансформации в случае, если элементы структуры волнового поля сравнимы с длиной волны или меньше её.

Например, ограниченный в пространстве волновой пучок имеет свойство «расходиться» («расплываться») в пространстве по мере распространения даже в однородной среде. Данное явление не описывается законами геометрической оптики и относится к дифракционным явлениям (дифракционная расходимость, дифракционное расплывание волнового пучка).

Исходное ограничение волнового поля в пространстве и его определённая структура могут возникнуть не только за счёт присутствия поглощающих или отражающих элементов, но и, например, при порождении (генерации, излучении) данного волнового поля.

Следует заметить, что в средах, в которых скорость волны плавно (по сравнению с длиной волны) меняется от точки к точке, распространение волнового пучка является криволинейным (см. градиентная оптика, градиентные волноводы, мираж). При этом волна также может огибать препятствие. Однако такое криволинейное распространение волны может быть описано с помощью уравнений геометрической оптики, и это явление не относится к дифракции.

Вместе с тем, во многих случаях дифракция может быть и не связана с огибанием препятствия (но всегда обусловлена его наличием). Такова, например, дифракция на непоглощающих (прозрачных), так называемых фазовых, структурах.

Поскольку, с одной стороны, явление дифракции света оказалось невозможным объяснить с точки зрения лучевой модели, то есть с точки зрения геометрической оптики, а с другой стороны, дифракция получила исчерпывающее объяснение в рамках волновой теории, то наблюдается тенденция понимать её проявление как любое отступление от законов геометрической оптики.

При этом следует заметить, что некоторые волновые явления не описываются законами геометрической оптики и, в то же время, не относятся к дифракции. К таким типично волновым явлениям относится, например, вращение плоскости поляризации световой волны в оптически активной среде, которое дифракцией не является.

Вместе с тем, единственным результатом так называемой коллинеарной дифракции с преобразованием оптических мод может быть именно поворот плоскости поляризации, в то время как дифрагированный волновой пучок сохраняет исходное направление распространения. Такой тип дифракции может быть реализован, например, как дифракция света на ультразвуке в двулучепреломляющих кристаллах, при которой волновые векторы оптической и акустической волн параллельны друг другу.

Ещё один пример: с точки зрения геометрической оптики невозможно объяснить явления, имеющие место в так называемых связанных волноводах, хотя эти явления также не относят к дифракции (волновые явления, связанные с «вытекающими» полями).

Раздел оптики «Оптика кристаллов», имеющей дело с оптической анизотропией среды, также имеет лишь косвенное отношение к проблеме дифракции. В то же самое время он нуждается в корректировке используемых представлений геометрической оптики. Это связано с различием в понятии луча (как направления распространения света) и распространения волнового фронта (то есть направления нормали к нему)

Отступление от прямолинейности распространения света наблюдается также в сильных полях тяготения. Экспериментально подтверждено, что свет, проходящий вблизи массивного объекта, например, вблизи звезды, отклоняется в её поле тяготения в сторону звезды. Таким образом, и в данном случае можно говорить об «огибании» световой волной препятствия. Однако, это явление также не относится к дифракции.

Частные случаи дифракции

Исторически в проблеме дифракции сначала рассматривались два крайних случая, связанных с ограничением препятствием (экраном с отверстием) сферической волны и это была дифракция Френеля, либо плоской волны на щели или системе отверстий - дифракция Фраунгофера

Дифракция на щели

Распределение интенсивности света при дифракции на щели

В качестве примера рассмотрим дифракционную картину, возникающую при прохождении света через щель в непрозрачном экране. Мы найдём интенсивность света в зависимости от угла в этом случае. Для написания исходного уравнения используем принцип Гюйгенса.

Рассмотрим монохроматическую плоскую волну с амплитудой Ψ′{\displaystyle \Psi ^{\prime }} с длиной волны λ{\displaystyle \lambda } , падающую на экран с щелью ширины a{\displaystyle a} .

Будем считать, что щель находится в плоскости x′ − y′ с центром в начале координат. Тогда может предполагаться, что дифракция производит волну ψ, которая расходится радиально. Вдали от разреза можно записать

Ψ=∫slitirλΨ′e−ikrdslit.{\displaystyle \Psi =\int \limits _{\mathrm {slit} }{\frac {i}{r\lambda }}\Psi ^{\prime }e^{-ikr}\,d\mathrm {slit} .}

Пусть (x′, y′, 0) — точка внутри разреза, по которому мы интегрируем. Мы хотим узнать интенсивность в точке (x, 0, z). Щель имеет конечный размер в x направлении (от x′=−a/2{\displaystyle x^{\prime }=-a/2} до +a/2{\displaystyle +a/2} ) и бесконечна в y направлении ([y′=−∞,∞{\displaystyle y'=-\infty ,\infty } ]).

Расстояние r от щели определяется как:

r=(x−x′)2+y′2+z2,{\displaystyle r={\sqrt {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}+y^{\prime 2}+z^{2}}},} r=z(1+(x−x′)2+y′2z2)12{\displaystyle r=z\left(1+{\frac {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}+y^{\prime 2}}{z^{2}}}\right)^{\frac {1}{2}}}

Предполагая случай дифракции Фраунгофера, получим условие z≫|(x−x′)|.{\displaystyle z\gg {\big |}\left(x-x^{\prime }\right){\big |}.} Другими словами, расстояние до точки наблюдения много больше характерного размера щели (ширины).

Используя биномиальное разложение и пренебрегая слагаемыми второго и выше порядков малости, можно записать расстояние в виде:

r≈z(1+12(x−x′)2+y′2z2),{\displaystyle r\approx z\left(1+{\frac {1}{2}}{\frac {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}+y^{\prime 2}}{z^{2}}}\right),} r≈z+(x−x′)2+y′22z.{\displaystyle r\approx z+{\frac {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}+y^{\prime 2}}{2z}}.}

Видно, что 1/r перед уравнением не осциллирует, то есть даёт малый вклад в интенсивность по сравнению с экспоненциальным множителем. Тогда его можно записать приближённо как z.

Ψ{\displaystyle \Psi }	=iΨ′zλ∫−a2a2∫−∞∞e−ik[z+(x−x′)2+y′22z]dx′dy′{\displaystyle ={\frac {i\Psi ^{\prime }}{z\lambda }}\int \limits _{-{\frac {a}{2}}}^{\frac {a}{2}}\int \limits _{-\infty }^{\infty }e^{-ik\left[z+{\frac {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}+y^{\prime 2}}{2z}}\right]}\,dx^{\prime }\,dy^{\prime }}
	=iΨ′zλe−ikz∫−a2a2e−ik[(x−x′)22z]dx′∫−∞∞e−ik[y′22z]dy′{\displaystyle ={\frac {i\Psi ^{\prime }}{z\lambda }}e^{-ikz}\int \limits _{-{\frac {a}{2}}}^{\frac {a}{2}}e^{-ik\left[{\frac {\left(x-x^{\prime }\right)^{2}}{2z}}\right]}\,dx^{\prime }\int \limits _{-\infty }^{\infty }e^{-ik\left[{\frac {y^{\prime 2}}{2z}}\right]}\,dy^{\prime }}
	=Ψ′izλe−ikx22z∫−a2a2eikxx′ze−ikx′22zdx′{\displaystyle =\Psi ^{\prime }{\sqrt {\frac {i}{z\lambda }}}e^{\frac {-ikx^{2}}{2z}}\int \limits _{-{\frac {a}{2}}}^{\frac {a}{2}}e^{\frac {ikxx^{\prime }}{z}}e^{\frac {-ikx^{\prime 2}}{2z}}\,dx^{\prime }}

Здесь мы введём некую константу C, которой обозначим все постоянные множители в предыдущем уравнении. Она в общем случае может быть комплексной, но это не важно, так как в конце нас будет интересовать только интенсивность, и нам будет интересен только квадрат модуля.

В случае дифракции Фраунгофера kx′2/z{\displaystyle kx^{\prime 2}/z} мало, поэтому e−ikx′22z≈1.{\displaystyle e^{\frac {-ikx^{\prime 2}}{2z}}\approx 1.} Такое же приближение верно и для e−ikx22z.{\displaystyle e^{\frac {-ikx^{2}}{2z}}.} Таким образом, считая C=Ψ′izλ,{\displaystyle C=\Psi ^{\prime }{\sqrt {\frac {i}{z\lambda }}},} приходим к выражению:

Ψ{\displaystyle \Psi }	=C∫−a2a2eikxx′zdx′{\displaystyle =C\int \limits _{-{\frac {a}{2}}}^{\frac {a}{2}}e^{\frac {ikxx^{\prime }}{z}}\,dx^{\prime }}
	=C(eikax2z−e−ikax2z)ikxz{\displaystyle =C{\frac {\left(e^{\frac {ikax}{2z}}-e^{\frac {-ikax}{2z}}\right)}{\frac {ikx}{z}}}}

Используя формулу Эйлера и её производную: sin⁡x=eix−e−ix2i{\displaystyle \sin x={\frac {e^{ix}-e^{-ix}}{2i}}} и sin⁡θ=xz.{\displaystyle \sin \theta ={\frac {x}{z}}.}

Ψ=aCsin⁡kasin⁡θ2kasin⁡θ2=aC[sinc⁡(kasin⁡θ2)],{\displaystyle \Psi =aC{\frac {\sin {\frac {ka\sin \theta }{2}}}{\frac {ka\sin \theta }{2}}}=aC\left[\operatorname {sinc} \left({\frac {ka\sin \theta }{2}}\right)\right],}

где ненормированная функция sinc(x) определена как sinc⁡x =def sin⁡xx.{\displaystyle \operatorname {sinc} x\ {\stackrel {\mathrm {def} }{=}}\ {\frac {\sin x}{x}}.}

Подставляя 2πλ=k{\displaystyle {\frac {2\pi }{\lambda }}=k} в последнее выражение для амплитуды, можно получить ответ для интенсивности в виде I{\displaystyle I} волны в зависимости от угла θ:

I(θ){\displaystyle I(\theta )}

=I0[sinc⁡(πaλsin⁡θ)]2.{\displaystyle =I_{0}{\left[\operatorname {sinc} \left({\frac {\pi a}{\lambda }}\sin \theta \right)\right]}^{2}.}

См. также Дифракция на N-щелях.

Дифракция на отверстии

Дифракция лазерного луча с длиной волны 650 нм, прошедшего через отверстие диаметром 0,2 мм

Дифракция звука и ультразвуковая локация

Дифракция радиоволн и радиолокация

Исследованием дифракции радиоволн занимается геометрическая теория дифракции[3]

Дифракционная решётка

Дифракционная решётка — оптический прибор, работающий по принципу дифракции света, представляет собой совокупность большого числа регулярно расположенных штрихов (щелей, выступов), нанесённых на некоторую поверхность. Первое описание явления сделал Джеймс Грегори, который использовал в качестве решётки птичьи перья.

Дифракция рентгеновских лучей

Дифракцию рентгеновских лучей можно наблюдать, направив их на кристалл, она используется в рентгеноструктурном анализе для определения структуры кристалла. Кроме того, дифракцию рентгеновских лучей можно получить, направив их на обычную дифракционную решётку (то есть, используемую для наблюдения дифракции видимого излучения) так, чтобы угол падения был достаточно близок к 90 градусам, этим способом можно измерить длину волны рентгеновских лучей[4].

Дифракция света на ультразвуке

Одним из наглядных примеров дифракции света на ультразвуке является дифракция света на ультразвуке в жидкости. В одной из постановок такого эксперимента в оптически-прозрачной ванночке в форме прямоугольного параллелепипеда с оптически-прозрачной жидкостью с помощью пластинки из пьезоматериала на частоте ультразвука возбуждается стоячая волна. В её узлах плотность воды ниже, и как следствие ниже её оптическая плотность, в пучностях — выше. Таким образом, при этих условиях ванночка с водой становится для световой волны фазовой дифракционной решёткой, на которой осуществляется дифракция в виде изменения фазовой структуры волн, что можно наблюдать в оптический микроскоп методом фазового контраста или методом тёмного поля.

Дифракция электронов

Дифракция электронов — процесс рассеяния электронов на совокупности частиц вещества, при котором электрон проявляет свойства, аналогичные свойствам волны. При выполнении некоторых условий, пропуская пучок электронов через материал можно зафиксировать дифракционную картину, соответствующую структуре материала. Процесс дифракции электронов получил широкое применение в аналитических исследованиях кристаллических структур металлов, сплавов, полупроводниковых материалов.

Брегговская дифракция

Согласно Закону Брэгга каждая точка (или отражение) в этой дифракционной картине формируется конструктивной интерференцией рентгеновских лучей, проходящих через кристалл. Эти данные могут быть использованы для определения атомной структуры кристаллов.

Дифракция от трехмерной периодической структуры, такой как атомы в кристалле называется дифракцией Брегга. Это похоже на то, что происходит, когда волны рассеиваются на дифракционной решётке. Брегговская дифракция является следствием интерференции между волнами, отражёнными от кристаллических плоскостей. Условие возникновения интерференции определяется законом Вульфа-Брегга:

2dsin⁡θ=nλ{\displaystyle 2d\sin \theta =n\lambda } ,

где

d — расстояние между кристаллическими плоскостями, θ угол скольжения — дополнительный угол к углу падения, λ — длина волны, n (n = 1,2…) — целое число называемое порядком дифракции.

Брегговская дифракция может осуществляться при использовании света с очень маленькой длиной волны, такого как рентгеновское излучение, либо волны материи, такие как нейтроны и электроны, длины волн которых сравнимы или много меньше, чем межатомное расстояние.[5] Получаемые данные дают информацию о межплоскостных расстояниях, что позволяет вывести кристаллическую структуру. Дифракционный контраст, в электронных микроскопах и рентгеновских топографических устройствах, в частности, также является мощным инструментом для изучения отдельных дефектов и локальных полей деформации в кристаллах.

Дифракция частиц (нейтронов, атомов, молекул)

История исследований

Основы теории дифракции были заложены при изучении дифракции света в первой половине XIX века в трудах Юнга и Френеля. Среди других учёных, которые внесли значительный вклад в изучение дифракции: Гримальди, Гюйгенс, Араго, Пуассон, Гаусс, Фраунгофер, Бабине, Кирхгоф, Аббе, У. Г. Брэгг и У. Л. Брэгг, фон Лауэ, Роуланд, Зоммерфельд, Леонтович, Фок, Ван-Циттерт, Цернике (см. История оптики).

Обнаружение дифракции частиц (электронов) в 1927 году (опыт Дэвиссона и Джермера) сыграло большую роль в подтверждении существования волн де Бройля и в подтверждении концепции корпускулярно-волнового дуализма (идеи двойственной природы волн и частиц). В XX и XXI веках продолжились исследования дифракции волн на сложных структурах.

Дифракционные методы

Дифракционные методы — это совокупность методов исследования атомного строения вещества, использующих дифракцию пучка фотонов, электронов или нейтронов, рассеиваемого исследуемым объектом.

В дифракционных методах измеряют зависимость интенсивности рассеянного излучения от направления, то есть функцию I (φ,θ). При этом длина волны после рассеяния не изменяется. Имеет место так называемое упругое рассеяние. В основе дифракционных методов лежит простое соотношение для длины волны и расстояния между рассеивающими атомами.

Рентгеноструктурный анализ позволяет определять координаты атомов в трёхмерном пространстве кристаллических веществ от простейших соединений до сложных белков.
Дифракция электронов
Дифракционным методом является также нейтронография, в основе которой лежит рассеяние нейтронов на ядрах атомов, в отличие от первых двух методов, где используется рассеяние на электронных оболочках.

Дифракция в фотографии

Дифракцию можно наблюдать в фотографии: чрезмерное закрытие диафрагмы (относительного отверстия) приводит к падению резкости. Поэтому для сохранения оптимально резкого изображения на фотографии не рекомендуется полностью закрывать диафрагму. Нужно отметить, что для каждой фотокамеры существует своя граница, до которой можно закрывать диафрагму, не опасаясь отрицательного эффекта дифракции[6][7].

См. также

Примечания

↑ Ландсберг Г. С. Оптика. — М. : Наука, 1976. — С. 346.
↑ В явлении рассеяния на мелких неоднородностях среды сказывается не только экранирование фронта волны, но и свойства самой неоднородности (скажем, водяной капли), определяющие индикатрису рассеяния (эффект Ми), что рассматривается, например, в научной дисциплине «Оптика атмосферы» в разделе, связанном с аэрозолем.
↑ Боровиков В. А., Кинбер Б. Е. Геометрическая теория дифракции. М.: Связь, 1978, 247 с.
↑ Ландсберг Г. С. §138. Дифракция при косом падении света на решётку // Элементарный учебник физики. — 13-е изд. — М.: Физматлит, 2003. — Т. 3. Колебания и волны. Оптика. Атомная и ядерная физика. — С. 347-348. — 656 с. — ISBN 5922103512.
↑ John M. Cowley (1975) Diffraction physics (North-Holland, Amsterdam) ISBN 0-444-10791-6
↑ Lens Diffraction & Photography // Cambridge in Colour
↑ Таблица характеристик матриц цифровых фотоаппаратов Архивная копия от 18 августа 2013 на Wayback Machine

Литература

Ссылки

ru-wiki.org

Дифракция света. Волновая оптика ::Класс!ная физика

Дифракция

- это явление, присущее волновым процессам для любого рода волн.

- наблюдение дифракции волн на водной поверхности при прохождении волн через узкую щель (с краю видны закругления плоских волн).

Дифракция света– это отклонение световых лучей от прямолинейного распространения при прохождении сквозь узкие щели, малые отверстия или при огибании малых препятствий.

Явление дифракции света доказывает, что свет обладает волновыми свойствами.

Для наблюдения дифракции можно:

- пропустить свет от источника через очень малое отверстие или расположить экран на большом расстоянии от отверстия. Тогда на экране наблюдается сложная картина из светлых и темных концентрических колец.- или направить свет на тонкую проволоку, тогда на экране будут наблюдаться светлые и темные полосы, а в случае белого света – радужная полоса.

- наблюдение дифракции света на малом отверстии.

Объяснение картины на экране:

Французский физик О. Френель объяснил наличие полос на экране тем, что световые волны, приходящие из разных точек в одну точку на экране, интерферируют между собой.

Принцип Гюйгенса – Френеля

Все вторичные источники, расположенные на поверхности фронта волны, когерентны между собой.Амплитуда и фаза волны в любой точке пространства – это результат интерференции волн, излучаемых вторичными источниками.

Принцип Гюйгенса-Френеля дает объяснение явлению дифракции:

1. вторичные волны, исходя из точек одного и того же волнового фронта (волновой фронт – это множество точек, до которых дошло колебание в данный момент времени) , когерентны, т.к. все точки фронта колеблются с одной и той же частотой и в одной и той же фазе;2. вторичные волны, являясь когерентными, интерферируют.

Явление дифракции накладывает ограничения на применение законов геометрической оптики:

Закон прямолинейного распространения света, законы отражения и преломления света выполняются достаточно точно только , если размеры препятствий много больше длины световой волны.

Дифракция накладывает предел на разрешающую способность оптических приборов:

- в микроскопе при наблюдении очень мелких предметов изображение получается размытым- в телескопе при наблюдении звезд вместо изображения точки получаем систему светлых и темных полос.

Дифракционная решетка

- это оптический прибор для измерения длины световой волны.

Дифракционная решетка представляет собой совокупность большого числа очень узких щелей, разделенных непрозрачными промежутками.

Если на решетку падает монохроматическая волна . то щели (вторичные источники) создают когерентные волны. За решеткой ставится собирающая линза, далее – экран. В результате интерференции света от различных щелей решетки на экране наблюдается система максимумов и минимумов.

Разность хода между волнами от краев соседних щелей равна длине отрезка АС. Если на этом отрезке укладыается целое число длин волн, то волны от всех щелей будут усиливать друг друга. При использовании белого света все максимумы (кроме центрального) имеют радужную окраску.

Итак, условие максимума:

где k – порядок (или номер) дифракционного спектра

Чем больше штрихов нанесено на решетке, тем дальше друг от друга находятся дифракционные спектры и тем меньше ширина каждой линии на экране, поэтому максимумы видны в виде раздельных линий, т.е. разрешающая сила решетки увеличивается.

Точность измерения длины волны тем больше, чем больше штрихов приходится на единицу длины решетки.

Дифракционная картина от тонкой проволоки

Дифракция в глазе

А ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?

Датский астроном Оле Рёмер знаменит тем, что впервые измерил скорость света, однако не только за это соотечественники говорят ему «спасибо». Именно благодаря Рёмеру в Копенгагене впервые в Европе появилось уличное освещение, ведь до этого горожанам приходилось носить с собой громоздкие фонари.___

Интересно, что алмаз является не только рекордсменом по твердости и отражению света, но он может еще и снизить скорость света почти на половину - до 124 000 км/c.

Другие страницы по теме "Волновая оптика":

Природа света. Измерение скорости светаОтражение светаПреломление светаПолное внутреннее отражениеДисперсия светаИнтерференция светаДифракция светаПоляризация света

class-fizika.narod.ru

Картина дифракционная - Энциклопедия по машиностроению XXL

Пример гауссова пучка служит прекрасной иллюстрацией к диффузионной интерпретации дифракционных явлений, изложенной в 38. Согласно этой интерпретации, дифракцию можно рассматривать как результат диффузии амплитуды поля вдоль волнового фронта по мере его распространения в среде. Картина дифракционного расширения гауссова пучка, изображенная на рис. 9.8, действительно копирует пространственное распределение плотности диффундирующих частиц, если последовательным положениям [c.189] Разрешение дифракционной картины (дифракционная ошибка) зависит от апертуры падающего электронного пучка (угла сходимости пучка на объекте). Малая длина волны электронов и, следовательно, малая величина брэгговских углов приводят к тому, что дифракционная ошибка весьма существенна даже при типичных для электронного микроскопа малых углах сходимости электронного пучка- [c.49]

Я ВКЛЮЧИЛ четыре рисунка из работ Лью единственно для того, чтобы проиллюстрировать общую природу оптической интерференции отмеченного типа. Картина дифракционных линий Фраунгофера, порожденная стоячей волной в кварцевом кристалле, показана на рис. 3.94, а образцы акустических волновых фронтов в расплавленном кварце, полученные между поляроидами с пересекающимися плоскостями поляризации, показаны на рис. 3.95. [c.453]

Так как прямоугольное отверстие будет иметь в общем случае неравные стороны, картина дифракционного распределения энергии будет различной [c.163]

Формулы (10.38) и (10.39) и определяют картину дифракционного распределения энергии по меридиональному и сагиттальному направлениям в кружке рассеяния для зрачка эллиптической формы. [c.165]

Другая картина дифракционного процесса получается при рассмотрении волновых полей в реальном пространстве кристаллической решетки. Падающая плоская волна г])о и дифрагированная волна г ) , распространяющиеся в направлениях, составляющих соответственно углы +9в и — 0в с отражающей плоскостью, будут [c.194]

Если Ро =7 или Р =7 оо, то наблюдается дифракция в непараллельных лучах — дифракция Френеля. В этом случае можно получить полную картину дифракционного поля на любом расстоянии от экрана. [c.274]

Наблюдаемая картина дифракционных рефлексов (рис.4.10) является результатом интерференции пучков электронов, дифрагировавших на атомах поверхности. Насколько наблюдаемая картина позволяет определить реальное расположение атомов — центров дифракции Формальный подход к расшифровке картин рефлексов, возникающих при ДМЭ, не дает ответа на этот основной вопрос. Отметим лишь три основные трудности. 1) Проникающие в кристалл электроны приводят к интерференции волн, отраженных от разных плоскостей в его приповерхностной области. К формулам для двумерной решетки (4.9) должны быть добавлены соотношения, учитывающие интерференцию в этой области. 2) Спектр ДМЭ, зависит от формы потенциального барьера поверхности, который должны преодолевать выходящие из кристалла электроны. Барьер определяется не только расположением атомов в ячейке, но также адсорбирован- [c.133]

Приступая к рассмотрению проблем дифракции, постараемся сперва составить себе некоторые общие качественные представления о картине дифракционных явлений. [c.362]

Условие подобия дифракции. Исходя из выражения (6.13а), можно сделать вывод, что при изменении (увеличении или уменьшении) Го в т раз, а размеров отверстия р — в Yт раз для данной длины волны не произойдет изменения числа действующих зон Френеля, т. е. условия наблюдения дифракции останутся прежними (как говорят, имеет место подобие дифракции ). Это экспериментально доказано русским ученым Аркадьевым. Он показал, что при уменьшении размеров препятствия величиной с обычную тарелку, для которого четкая дифракционная картина наблюдается на расстоянии 7 км, примерно в 13 раз можно наблюдать ясную дифракционную картину в лабораторных условиях при [c.125]

Дифракция света на прямолинейном крае непрозрачного экрана. Свет, исходящий из точечного источника S, падает на непрозрачный экран 5i, имеющий прямолинейный край и простирающийся влево до бесконечности. Наблюдение ведется на экране Э-2 (рис. 6.11). Так как волновой фронт ограничивается прямолинейным краем полуплоскости, то наблюдается дифракция. Для оценки дифракционной картины на экране необходимо, как и в предыдущих [c.132]

На практике обычно приходится иметь дело не с точечным, а с протяженным источником света. Это приводит к ухудшению видимости дифракционной картины. Например, если источник света взять в виде светящейся нити, то различные ее точки будут излучать некогерентные лучи и результирующая дифракционная картина будет представлять собой наложение дифракционных картин от точечных источников. [c.136]

Влияние размеров источника. Представляет интерес рассмотреть также влияние размеров источника па дифракционную картину. Допустим, что удаленный источник света линейный и имеет размер АВ. Каждая точка протяженного источника одинаковой яркости даст дифракционную картину. Эти идентичные картины будут смещены друг относительно друга в пределах угловых размеров источника. [c.141]

В качестве углового размера принимается у) ол, под которым виден источник при наблюдении из центра щели, который обозначим через 2а. На рис. 6.21 показано положение максимумов для центральной точки С и крайних точек Ап В источника. Как видно, максимумы крайних точек А и В источника лежат под углами соответственно +а и —а. Результирующая интенсивность дифракционной картины зависит от соотношения между углом дифракции ф и углом а. Как известно, уменьшение ширины щели приводит [c.141]

Очень эффектные явления легко наблюдать при использовании достаточно интенсивного источника света, в нескольких метрах от которого устанавливается малый непрозрачный экран или ирисовая диафрагма, позволяющая открывать ряд зон Френеля. Конечно, расстояние а г 02 источника света до матового экрана, на котором следует наблюдать дифракционную картину, должно быть достаточно большим (не менее 10 — 15 м). Эти эксперименты (рис. 6.6) трудно показать в большой аудитории без современных технических средств. Многие из опытов по дифракции Френеля можно демонстрировать с помощью простейшей телевизионной установки, включающей передающую трубку (монитор) и несколько телевизоров, установленных в аудитории. Свет от мощной лампы фокусируется на небольшой круглой диафрагме. После дифракции на исследуемом препятствии свет от этого точечного источника попадает на фотокатод монитора и зрители наблюдают на экранах телевизоров сильно увеличенное изображение дифракционной картины (рис. 6.5, 6.6). [c.262]

Строго говоря, при осуществлении таких опытов мы несколько отходим от первоначальной формулировки задачи (которая, впрочем, не очень уточнялась для упрощения рассуждений). Дело в том, что свойства экрана должны в какой-то мере сказываться на результатах дифракционных опытов. Рассматривая проводящий экран, надо учесть взаимодействие с ним электромагнитной волны, определить, хорошо ли он отражает 0 = 1) или плохо (// = 0), и т. д. Применение непроводящего экрана затруднительно по другим причинам. Но все приведенные оговорки несущественны, так как опыт показывает фактическую идентичность дифракционных картин во всех подобных случаях. Действительно, нетрудно заметить, что все нарушения возникают [c.262]

Ранее было сделано предположение о том, что при заданном отверстии в экране можно произвольно выбрать воображаемую поверхность а. Обычно она полностью закрывает отверстие, а ее форма была удобна для определения результирующей амплитуды. При этом считают, что амплитуда колебаний всюду на поверхности экрана равна нулю, а в отверстии ее величина та же, что и при отсутствии экрана. Конечно, это приближение заведомо несправедливо, например вблизи границы проводящего экрана, но оно практически не сказывается на распределении интенсивности в остальных частях дифракционной картины. [c.263]

На рис. 3.96 показана картина дифракционных линий Френеля от продольных стоячих волн в топазе, на рис. 3.97 представлено видимое отображение акустических волн в расплавленном кварце, полученное методом Шлиерена, позволяющим найти распределение акустической энергии вдоль траектории луча. [c.453]

Л), геометрич. разрешение определяется толщиной образца, угловым размером источника излучения и разрешением фотоматериала. Разрешение метода ограничивается также разрешающей способностью оптич. прибора (микроскопа, проекторам т. п.), применяемого для увеличения рентгеновской картины. Дифракционное разрешение и контрастность изображения определяются теми же условиями, что и в проекционной Р. м. Разрешающая способность контактной микрорентгенографии достигает 1 мк [8]. Примепение беззернистых фотографич. эмульсий, очень тонких образцов (1 мк) и электронных микроскопов дли увеличепия микрорептгенограмм позволит повысить разрешающую способность до 1000—500Л [9]. [c.423]

Как правило, при работе с микроскопом ситуация оказывается значите,льно сложнее. В большинстве случаев рассматриваемый предмет не является само-светящимсл и, следовательно, должен освещаться с помощью вспомогательного устройства. Вследствие дифракции па отверстии осветительной системы (конденсора) каждый элемент источника создает в предметной плоскости микроскопа дифракционную картину. Дифракционные картины с центрами в достаточно близких друг к другу точках частично перекрываются и, следователыю, в соседних точках плоскости предмета световые колебания в общем случае частично коррелированы. Часть этого света проходит сквозь предмет с изменением фазы или без него, тогда как оставшаяся его часть рассеивается, отражается или поглощается. Поэтому, вообще говоря, нсвозлюжпо посредством одного наблюдения или, даже используя одно какое-то устройство, получить правильное увеличенное изображение всей микроструктуры объекта. По этой причине были разработаны различные методы наблюдения, пригодные для изучения определенных типов объектов или для выявления у них тех или иных характерных особенностей. [c.383]

Весьма существенным является поддержание наружного диаметра волокна с точностью до долей микрометра, поскольку именно по наружной поверхности происходит выравнивание волокон при их соединении. Любые отклонения диаметра от номинального значения приводят к несовпадению сердцевин соединяемых волокон. Самая распространенная система для контроля диаметра вытягиваемого волокна состоит из лазера, освещающего волокно, и фотодетектора, помещаемого в дальнюю зону возникающей при этом дифракционной картины. Дифракционная картина изменяется при всяком изменении диаметра волокна, заставляя изменяться при этом и ток фотодиода. Это изменение тока действует, в свою очередь, как сигнал, который управляет сервомеханизмами, которые определяют скорость намотки волокна и скорость поступления заготовки в устройство вытяжки. Таким образом, обеспечивается нестабильность менее 0,1 %. Скорость намотки волокна регулируется наилучщим образом с помощью прецизионного электропривода. Затем куски волокна требуемой длины могут быть намотаны иа шпули и без остановки и возобновления процесса вытягивания волокна в каждом отдельном случае. [c.100]

Влияние немонохроматкчности света на дифракционную картину. Если бы в вышеуказанном случае падающий свет был строго [c.131]

Пусть фронт сферической волны в данный момент времени будет сг. Цуги волн, исходящие из соответствующих точек фронта волны а, приходят в точку В вследствие их спмметричн01 0 расположения относительно линии SB с одинаковой фазой. По мере удаления по поверхности экрана от точки В должно происходить уменьшение когерентности световых колебаний от разных точек поверхности а. В конечном счете дифракционная картина исчезнет. Этот вывод можно пояснить следующими рассуждениями. [c.131]

Теорема Бабине. Опираясь г а рассмотренные случаи дифракции света, можно нрийти к формулировке так называемой теоремьЕ Бабине, гласящей Если на пути широкого пучка ставить поочередно препятствия и отверстия с одним и тем же сечением и если ограничиться наблюдением той области, которая в случае свободного пучка представлялась бы совершенно темной (и, кроме того, свободной от дифракции на краях), то в этой области будет наблюдаться дифракционная картина, одинаковая как для препятствия, так и для отверстия . [c.132]

Влияние ширины щели. Рассмотрим теперь влияние ширины щели на дифракционную картину. Как следует из рис. 6.20, с увеличением ширины щели происходит сближение максимумов и минимумов относительно центра. Поскольку с увеличением ширины щели увеличивается общий световой поток, то интенсивность при сравнительно больших отверстиях должна быть больше. На рис. 6.20 представлен график распределения интенсивности для щелей разной ширины. Как видно из рисунка, с уменьшением ширины щели центральный максимум расплывается. При Ь Я (что соответствует sin ф 1, т. е. ф = л/2) [[.еитральный максимум расплывается в бесконечность, что приводит к равномерному освещению экрана. Дальнейшее уменьшение ишрины щели (Ь теории Френеля — Кирхгофа. Этот случай не имеет смысла с практической точки зрения, так как при этом наблюдается монотонное уменьшение интенсивности прошедшего света. [c.140]

Следовательно, чем уже щель, тем меньше размеры источника влияют на резуль Бирующую дифракционную картину. [c.141]

Картина дифракции от прямоугольного отверстия представлена иа рис. 6.22. В правом нижнем углу рисунка изображено соответствующее прямоугольное отверстие. Характерные особенности дифракционной картины от Н1,ели сохраняются и в этом случае. В 1 астности основная световая энергия ири.хо-дится иа центральный максимум, а иитенсив1юсти максимумов вдоль обоих взаимно перпендикулярных наиравлетп от1юсятся как [c.142]

Дифракция света от двух щелей. При рассмотрении дифракции плоской световой волны от щели мы видели, что распределение интенсивности на экране определяется направлением дифрагированных лучей. Это означает, что перемещение щели паралельно самой себе влево и вправо по экрану 5, (см. рис. 6.17) не приводит к какому-либо изменению дифракционной картины. Следовательно, если на з интерференции волн, идущих от обеих щелей. Направим параллельный пучок когерентного света на непрозрачный экран с двумя идентичными щелями шириной Ь, отстоящими друг от друга на расстоянии а (рис. 6.24). Очевидно, в тех направлениях, в которых ни одна из щелей не распространяет [c.143]

Дифракционная картина от многих (N > 1) щелей представлена на рис. 6.27. Как видно, четкие rjiaiuibie максимумы разделены темными пространствами. [c.147]

Сравнение (6.26) с (6.27а) показывает, что угол дифракции (6 — фт) при наклонном падении вычисляется так же, как при нормальном падении света, но с уменьшенным значением d = d os б) периода решетки. Следовательрю, при довольно большом наклоне (б як 90°) луча кажущ,аяся постоянная решетки (d os б) становится весьма малой и на решетке (d > i) при таком освеш,ении можно будет наблюдать четкую дифракционную картину. [c.149]

Щель является од1юн из существенных частей спектральных (призменным, дифракционный) нрнборон. Она служит для получения так называемых спектральных ЛИНИН — максимумов дифракционной картины, соответствующей данной длнне волны. Принцип действия щели основан на явлении фраунгоферовой дифракции от одной щели, где дальнейшее ее сужение начиная с определенной ширины приводит к размытию изображения щели — к появлению дифракционной картины. Каждый максимум дифракционной картины называется спектральной линией, соотвегс1вующей данной длине волны к. В зависимости от конкретно поставленной задачи ширину щели, состоящей из двух подвижных ножей, меняют от нескольких тысячных до нескольких десятых (иногда и больше) миллиметра. [c.154]

При достаточно больнюм числе щелей максимумы для каждого из этих двух направлений будут довольно острыми, причем на них будет приходиться и существенная часть падающей световой энергии. В результате па экране получится дифракционная картина в виде четких симметрично расположенных световых пятен. При освещении белым светом произойдет разложеш е в непрерывный спектр по направлениям х и у. [c.156]

Сущность идеи Лауэ при постановке соответствующего эксперимента заключается в следующем кристалл К, расположенный на подставке, освещается рентгеновским излучением непрерывного спектра, исходящего из рентгеновской трубки (рис. 6.41). Излучение с длиной волны, удовлетворяющей условию (6.49), дифрагируя на кристаллической решетке, дает соответствующую дифракционную картину (так называемую лауэграмму). Анализ лауэ-граммы позволяет получить сведения о кристаллической структуре. [c.164]

Заканчивая этот краткий обзор различных электромагнитных волн, следует отметить разницу между физической оптикой, изучению которой посвящена эта книга, и физиологической оптикой, не рассматриваемой здесь. В некоторых случаях различие между ними очевидно если ввести в дугу соль натрия и разложить ее излучение в спектр призмой или дифракционной решеткой, то мы увидим на экране ярко-желтый дублет. То, что длины волн этих линий равны 5890—5896 А, нетрудно установить измерениями, целиком относящимися к методам физической оптики. Но вопрос о том, почему эти линии кажутся нам желтыми, нельзя решить в рамках этой науки, и он относится к физиологической оптике. Конечно, проведение столь четкой границы между ними дЕ1леко не всегда возможно, и иногда трудно решить, имеем ли мы, например, дело с истинной интерференционной картиной или с кажущимися глазу полосами, возникновение которых связано с явлением контраста, и т. д. Некоторые интересные данные по физиологической оптике содержатся в лекциях Р.Фейнмана, который счел возможным сочетать изложение этих вопросов с основами физической и геометрической оптики. [c.14]

mash-xxl.info

дифракционная картина - это... Что такое дифракционная картина?

дифракционная картина diffraction pattern

Русско-английский синонимический словарь. 2014.

дифрагированный пучок
дифракционная оптика

Смотреть что такое "дифракционная картина" в других словарях:

дифракционная картина — Интерференционная картина, возникающая при интерференции света, дифрагировавшего на оптических неоднородностях. [Сборник рекомендуемых терминов. Выпуск 79. Физическая оптика. Академия наук СССР. Комитет научно технической терминологии. 1970 г.]… … Справочник технического переводчика
дифракционная картина — difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. diffraction image; diffraction pattern vok. Beugungsbild, n; Beugungserscheinung, f rus. дифракционная картина, f; дифракционное изображение, n pranc. figure de diffraction, f; image … Fizikos terminų žodynas
дифракционная картина Лауэ — Lauės difrakcinis vaizdas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. Laue diffraction pattern vok. Laue Beugungsbild, n rus. дифракционная картина Лауэ, f pranc. figure de difraction Laue, f … Fizikos terminų žodynas
картина дифракционная — Отображение кристаллич. структуры в виде линий или точек на фоточувствит. материале, создав. дифрагиров. пучками эл нов, нейтронов или рентг. лучей. [http://metaltrade.ru/abc/a.htm] Тематики металлургия в целом EN diffraction pattern … Справочник технического переводчика
Картина дифракционная — [diffraction pattern] отображение кристаллической структуры в виде линий или точек на фоточувствительном материале, создаваемое, дифрагированными пучками электронов, нейтронов или рентгеновских лучей … Энциклопедический словарь по металлургии
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА — раздел физики, изучающий структуру и свойства твердых тел. Научные данные о микроструктуре твердых веществ и о физических и химических свойствах составляющих их атомов необходимы для разработки новых материалов и технических устройств. Физика… … Энциклопедия Кольера
ОПТИКА — раздел физики, в котором рассматриваются все явления, связанные со светом, включая инфракрасное и ультрафиолетовое излучение (см. также ФОТОМЕТРИЯ; ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ). ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Геометрическая оптика основывается на… … Энциклопедия Кольера
Дуализм корпускулярно-волновой — Квантовая механика Принцип неопределённости Введение ... Математическая формулировка ... Основа … Википедия
Корпускулярно-волновой дуализм — Квантовая механика … Википедия
Волны — изменения состояния среды (возмущения), распространяющиеся в этой среде и несущие с собой энергию. Например, удар по концу стального стержня вызывает на этом конце местное сжатие, которое распространяется затем вдоль стержня со скоростью… … Большая советская энциклопедия
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ — невидимое излучение, способное проникать, хотя и в разной степени, во все вещества. Представляет собой электромагнитное излучение с длиной волны порядка 10 8 см. Как и видимый свет, рентгеновское излучение вызывает почернение фотопленки. Это его… … Энциклопедия Кольера

Книги

11 класс. Физика, Сборник. Диск предназначен в помощь учащимся 11 классов, изучающим физику на базовом уровне. Он включает в себя теоретический материал, состоящий из 15 основных разделов школьной программы. Простота… Подробнее Купить за 149 руб аудиокнига

synonymum_ru_en.academic.ru

Дифракционная картина - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1

Дифракционная картина

Cтраница 1

Дифракционные картины от монокристалла и поликристаллической пленки отличаются тем, что каждому пятну ( максимуму интенсивности), получающемуся в первом случае, соответствует дифракционное кольцо во втором случае. [2]

Дифракционная картина регистрируется на неподвижной фотопленке, расположенной на цилиндрической поверхности вокруг образца. [3]

Дифракционная картина от многих ( Л /; 1) щелей представлена на рис. 6.27. Как видно, четкие главные максимумы разделены темными пространствами. [4]

Дифракционная картина, образующаяся в фокальной плоскости F объектива 02, рассматривается через окуляр О. Применение коллиматора и зрительной трубы эквивалентно удалению источника света ( щели S) и плоскости наблюдения ( фокальной плоскости F) на бесконечно большие расстояния от двойной щелиг что обеспечивает выполнение условий дифракции Фраунгофера при небольших геометрических размерах установки. [5]

Дифракционная картина от кварца как поршневого излучателя аналогична картине дифракции света от круглого отверстия. Бесконечная среда перед кварцем может быть разделена на область дифракции Френеля и область дифракции Фраунгофера. Область дифракции Френеля, прилегающая к кварцу, характеризуется малым абсолютным расхождением пучка, и границы ее определяются первым минимумом интенсивности дифракции Фраунгофера. Половина угла, при котором наблюдается первый минимум интенсивности в области дифракции Фраунгофера. [6]

Дифракционная картина наблюдается на экране Э, параллельном плоскости отверстия и находящемся от него на расстоянии L. [7]

Дифракционная картина на экране Э ( см. рис. 32.7) зависит от отношения ширины b щели к длине волны Я света. [8]

Дифракционная картина, получаемая при прохождении монохроматического рентгеновского излучения через поликристаллические образцы, называется дебаеграммой. Метод Дебая - Шеррера широко применяется для исследования структуры высокомолекулярных соединений, волокон и других объектов, имеющих кристаллическую фазу. [9]

Дифракционные картины таких монокристаллов подтверждают это. [10]

Дифракционные картины, сориентированные вертикально на плоскую мишень, были настолько резкими и яркими, что при минимальном затемнении комнаты можно было различить не менее 10 дифракционных колец. [12]

Дифракционная картина, полученная в опыте Дэписсона и Дшермсра при различных углах р поворота кристалла для двух ускоряющих напряжений У, двух значений угла В, определяющих положение гальванометра. В скобках указаны индексы кристаллографических плоскостей, на которых наблюдалась дифракция. [13]

Дифракционная картина, получаемая методом рентгенографии, нейтронографии или электронографии, позволяет установить симметрийные и геом. Так определяют точечную группу кристалла и элементарную ячейку; по характерным погасаниям ( отсутствие определенных дифракционных рефлексов) определяют тип решетки Йраве и принадлежность к той или иной пространственной группе. Размещение атомов в элементарной ячейке находят по совокупности интенсивностей дифракционных рефлексов. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5